GB/T 43226-2023 宇航用半导体集成电路单粒子软错误时域测试方法
基本信息
标准号：GB/T 43226-2023
发布单位或类别：中国-国家标准（CN-GB）
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-01-01
废止日期：
CCS分类：
V25 航空、航天 – 航空器与航天器零部件 – 电子元器件
ICS分类：
49.140 航空器和航天器工程 – 航天系统和操作装置
适用范围/摘要
研制信息
起草单位：
北京微电子技术研究所;
中国航天电子技术研究院;
起 草 人：
赵元富; 陈雷; 王亮; 岳素格; 郑宏超; 李哲; 林建京; 李永峰; 陈淼; 王汉宁;
归口单位：
全国宇航技术及其应用标准化技术委员会
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