GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）

 
GB/T 4937.26-2023 半导体器件 机械和气候试验方法 第26部分：静电放电（ESD）敏感度测试 人体模型（HBM）
基本信息
标准号：GB/T 4937.26-2023
发布单位或类别：中国-国家标准（CN-GB）
发布日期：2023-09-07
实施日期：2024-04-01
废止日期：
CCS分类：
L40 电子元器件与信息技术 – 半导体分立器件 – 半导体分立器件综合
ICS分类：
31.080.01 半导体分立器件 – 半导体器分立件综合

适用范围/摘要

研制信息
起草单位：
中国电子科技集团公司第十三研究所;

河北北芯半导体科技有限公司;

安徽荣创芯科自动化设备制造有限公司;

北京赛迪君信电子产品检测实验室有限公司;

河北中电科航检测技术服务有限公司;

捷捷半导体有限公司;

佛山市川东磁电股份有限公司;

起 草 人：
高蕾; 张魁; 鲁世斌; 迟雷; 翟玉颖; 彭浩; 高金环; 张瑞霞; 黄杰; 赵鹏; 徐昕; 魏兵; 黎重林; 颜天宝; 金哲;

归口单位：
全国半导体器件标准化技术委员会